Система внутрисхемного контроля ꜛ HIOKI FA 1240-61 (63)
Разработано специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.
Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот и оптимальное разрешение — главные показатели эффективного решения для неразрушающего контроля.
Полное описание
Электрический контроль, летающие пробники, подвижные зонды — всё это можно применить к данной системе тестирования смонтированных печатных плат. Система предназначена для комплексной проверки целостности и корректности монтажа компонентов на платы.
Особенности системы:
- сверхскоростные измерения
- плавная подача щупов
- большой размер рабочей области тестирования
- функция автоматической корректировки позиционирования
- базовое оснащение системой загрузки
- высокая точность перемещения
- автоматическая оптимизация маршрута
- система оптического контроля для определения:
— отсутствия или сдвига компонента
— неправильного компонент
— неверной полярности и т.д.
HIOKI FA 1240–63 — это решение для СМП-линий компактного исполнения и размером ПП до 400х330 мм. HIOKI FA позволяет существенно повысить качество внутрисхемного контроля и уменьшить суммарное время выполнения этой операции.
Список тестов и проверок::
- комплексная проверка целостности и корректности монтажа платы (PCB)
- измерение постоянных токов и напряжений
- измерение переменных токов и напряжений
- измерение частот
- комплексная проверка элементов (резисторов, конденсаторов, индуктивностей, трансформаторов, стабилитронов, полупроводников (диоды, полевые и биполярные транзисторы), реле, оптопар, коммутирующих устройств, контроль яркости и цвета светодиодов)
- обнаружение не пропаянных выводов интегральных микросхем
- проверка сопротивления изоляции
- прозвонка и т. д.
Параметры
Модель | FA-1240-61 | FA-1240-63 |
Щупы для верхней стороны платы | 4 подвижных наклонных щупа | |
Разрешение позиционирования летающих щупов | по осям X и Y: 1 мкм = 0,001 мм по оси Z: 6 мкм = 0,006 мм |
|
Скорость тестирования (при шаге 2,5 мм), максимальное значение |
одиночный тест: 0,07 с/шаг при последовательности тестов: 0,025 с/шаг |
|
Параметры тестируемой платы (PCB) | ||
Размеры области тестирования, мм | 510×460 | 400×330 |
Максимальная высота компонентов над уровнем платы, мм |
38 | 28 |
Повторяемость позиционирования щупов (по осям X и Y) | ±50 мкм = 0,05 мм | |
Операционная система | Microsoft Windows 8 | |
Требования к подводу воздуха |
0,6-0,99 МПа (сухой чистый воздух), потребление – 0,5 л/мин |
|
Электропитание | ~ 200-240 В, 50/60 Гц, 6 кВА | |
Габаритные размеры, мм | 1410×1720×1520 | 1270×1800×1470 |
Вес, кг | 1300 | 1050 |