OMRON переводит автоматический рентгеновский контроль на совершенно новый, более высокий, уровень. Систему рентгеновского контроля и томографии OMRON VT-X750 уже продемонстрировали на международной выставке «Productronica 2017».
OMRON VT-X750 — это самая быстрая установка рентгеновского контроля, которая использует метод компьютерной томографии (3D-CT) как фундамент для построения изображения, и как гарант качества при инспекции изделий.
Особенность OMRON VT-X750 в том, что она позволяет проводить инспекцию в два раза быстрее предыдущей модели из этой же серии. И всё это благодаря улучшенным компонентам.
Технология компьютерной томографии обеспечивает отличное распознавание формы пайки и обнаружение дефектов, создавая при этом объемное рентгеновское изображение исследуемого объекта/участка на смонтированной плате.
OMRON VT-X750 позволяет определить такие дефекты как: отсутствие смачивания припоя, обнаружение инородных объектов, анализ пустот, затекание припоя в переходные отверстия, образование перемычек, наличие припоя и т.д. Аддитивные технологии позволяют исследовать такие компоненты как BGA/CSP, QFP, SOP, QFN, компоненты выводного монтажа, транзисторы и т.д.
Ключевую роль играет 3D-изображение исследуемого участка по слоям с помощью метода компьютерной томографии, что позволяет исследовать, в том числе многослойные платы и BGA-компоненты.
Стоит так же отметить, что на установке OMRON VT-X750 можно проверять печатные платы размеров XL, а изделие может достигать размеров 610×515мм.
Подробное описание конвейерной установки OMRON VT-X750.