Разработано специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.
Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот и оптимальное разрешение — главные показатели эффективного решения для неразрушающего контроля.
Разработано специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.
Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот и оптимальное разрешение — главные показатели эффективного решения для неразрушающего контроля.
Специалист направления
Игорь Хромцов
Отправьте запрос
Запрос отправленный через сайт имеет 100% приоритет перед всеми другими обращениями, включая почту INFO@ и рассматривается специалистом с 9:00 по 18:00 с ПН по ПТ.