AcouLab SAM-DENEB — сканирующий акустический микроскоп

AcouLab SAM-DENEB — сканирующий акустический микроскоп

Разработан специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники.

Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение делают его эффективным решением для неразрушающего контроля.

Поделиться
  • Полное описание
  • Особенности
  • Применение
  • Характеристики

Акустическая микроскопия — это метод неразрушающего контроля, позволяющий выявлять скрытые дефекты в однородных и разнородных объектах и структурах. В микроэлектронике акустическая микроскопия применяется для выявления дефектов выводов flip-chip микросхем, пустот и расслоений, образующихся при монтаже и заливке кристаллов, трещин и повреждений микросхем и т.п.

Сканирующий акустический микроскоп SAM-DENEB

Разработан специально для задач выявления скрытых дефектов в изделиях микроэлектроники. Высокая скорость сканирования, широкий диапазон частот, оптимальное разрешение делают его эффективным решением для неразрушающего контроля.

ПРЕИМУЩЕСТВА

  • высокая проникающая способность, которая позволяет распознавать дефекты на глубине до 6 метров в стали
  • высокая чувствительность, позволяющая распознавать субмикронные дефекты
  • возможного объемного контроля
  • безопасность для оператора

ВОЗМОЖНОСТИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ

  • операционная система Windows 7
  • автоматический и ручной режимы работы
  • автоматическая фокусировка
  • сканирование вида «сигнал-эхо» и «сквозной режим»
  • сканирование в режимах: A, B, C — Scan, FFT — Scan, TOF 3D, Multi-Layer Scan, Tray Scan, Strip Scan
     

ПРИМЕРЫ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ

Трещины в кристаллах


QFT микросхемы


Инспекция монтажа flip-chip кристаллов

     
Die to Bump                                                                  Bump to Substrate

  • в микроэлектронике: Stacked dies, Wire-bonding, Die attach, Flip chip, Underfill, BGA, QFP, TBGA, FBGA, SOT, MLCC и т.п.
  • в промышленности: мишени, пластины, керамические материалы, трубы, сварочные швы и т.п.

  • возможность работы в диапазоне от 5 до 500 МГц
  • область сканирования 350 х 350 мм
  • разрешение 0,5 мкм
  • скорость сканирования до 1000 мм/с


За дополнительной информацией по продукции в каталоге обратитесь к менеджерам компании «Глобал Инжиниринг».

14 июня 2017, Санкт-Петербург

Практическая конференция
«Сборочно-монтажное оборудование.
Технологии и практические решения»

Вернуться на сайт Подробнее

Офис в Москве

Глобал Инжиниринг

г.Москва Высоковольтный проезд, 1/49, офис 303

+7 495 980 0819

Время работы:

Офис в Санкт-Петербурге

Глобал Инжиниринг

г.Санкт-Петербург Набережная Чёрной речки, 41, БЦ «Прогресс Сити», офис 215

+7 495 980 0819

Время работы: